DFT，為車規(guī)芯片裝上“安全鎖”
6月12日，國微芯聯(lián)合Siemens和深圳市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)促進中心，順利開展了汽車電子芯片功能驗證和DFT技術(shù)培訓(xùn)。本次活動為廣大DFT工程師和芯片設(shè)計相關(guān)從業(yè)人員提供了一個深入學(xué)習(xí)、交流的平臺，旨在探討如何應(yīng)對快速發(fā)展的汽車及智能駕駛系統(tǒng)中帶來的安全隱患，并通過可測試性設(shè)計確保芯片的安全性和可靠性。
在培訓(xùn)演講中，國微芯工程師Andy Tang結(jié)合她十余年的可測試性設(shè)計經(jīng)驗以《如何高效規(guī)劃車規(guī)芯片DFT設(shè)計技術(shù)思路以及流程》為主題，為與會者帶來了豐富的經(jīng)驗交流和啟發(fā)。
隨著汽車及智能駕駛系統(tǒng)的快速發(fā)展，車載芯片的數(shù)量不斷增長，而汽車功能的升級也帶來了安全隱患。為了防止芯片出現(xiàn)bug導(dǎo)致車輛及人員損傷的可能性，DFT工程師引入了可測試性設(shè)計到芯片設(shè)計中，以確保芯片的安全性和可靠性。
Andy Tang重點提到，國微芯DFT設(shè)計能夠為芯片提供高質(zhì)量、低測試成本的DFT解決方案，根據(jù)芯片特點和設(shè)計需求，定制DFT架構(gòu)，規(guī)劃SCAN/MBIST/ REPAIR/LogicBist/BSCAN方案幫助完成IP測試、ATE測試、向量診斷和良率提升等任務(wù)，助力車規(guī)芯片滿足各項國際安全質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的要求，并介紹了以下幾個關(guān)鍵的“技術(shù)亮點”。
Memory BIST 架構(gòu)實現(xiàn)存儲器“自愈”
為確保汽車的安全性，芯片儲存器必須是安全可靠的。汽車芯片中的存儲器故障可能導(dǎo)致汽車無法啟動、系統(tǒng)無法正常運行或無法響應(yīng)駕駛員的指令等問題。國微芯的Memory BIST系統(tǒng)架構(gòu)，具備算法原子化及適應(yīng)先進工藝制造條件下復(fù)雜多變的算法需求的能力，可以實現(xiàn)儲存器的自診斷-自修復(fù)過程，以確保儲存器的可靠性和穩(wěn)定性。
在線自測試確保系統(tǒng)穩(wěn)定性
國微芯使用Mission Mode Controller，配合計算機系統(tǒng)完成在線自測試和診斷，修復(fù)，包括模塊的功能驗證檢查。此外，還可以在芯片功能運行期間定期進行測試，通過低延遲的系統(tǒng)級訪問方式，對所有芯片上的測試資源進行在線測試和診斷，包括模塊的功能驗證檢查、跨時鐘域的亞穩(wěn)態(tài)檢查等等，以確保芯片系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
Scan技術(shù)促進測試-設(shè)計迭代
Scan技術(shù)在測試和檢測邏輯電路方面發(fā)揮了作用。通過機臺測試，檢測芯片生產(chǎn)過程工藝缺陷探查芯片應(yīng)用條件邊界，高效設(shè)定生產(chǎn)篩選規(guī)格，并通過分析測試結(jié)果識別設(shè)計問題，促進測試-設(shè)計迭代。所積累的產(chǎn)品系列數(shù)據(jù)，可以為未來的產(chǎn)品提供參考，提高芯片的可測試性和質(zhì)量。
要開發(fā)一款成功的車規(guī)芯片，需要從芯片設(shè)計的源頭開始，貫穿設(shè)計、制造和封裝測試等環(huán)節(jié)，進行全方位的把控。國微芯DFT團隊?wèi){借多個自研架構(gòu)和豐富的設(shè)計經(jīng)驗，提供全面的車規(guī)解決方案，確保車規(guī)安全，致力于為客戶提供最優(yōu)質(zhì)的服務(wù)，幫助客戶提高芯片測試效率和可靠性，降低成本，并縮短產(chǎn)品上市時間。
本次培訓(xùn)活動的順利舉辦，為車規(guī)芯片的開發(fā)與應(yīng)用領(lǐng)域帶來了寶貴的交流和合作機會。未來，國微芯DFT團隊將繼續(xù)發(fā)揮自身優(yōu)勢，推動車規(guī)芯片技術(shù)的創(chuàng)新和應(yīng)用的推廣，以滿足不斷升級的車規(guī)標(biāo)準(zhǔn)和日益復(fù)雜的應(yīng)用場景。同時，國微芯還將與合作伙伴們加強溝通與合作，共同推動車規(guī)芯片產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，為構(gòu)建智能、安全、可靠的汽車交通系統(tǒng)貢獻力量。
