芯天成可測試性設計平臺EsseDFT
芯天成可測試性設計平臺
國微芯可測試性工具團隊，致力于研發(fā)與集成完全國產(chǎn)化的測試設計EDA組合從而打造功能強勁、性能可靠的全國產(chǎn)化測試設計流程。目前包括自動向量生成工具GoATPG、存儲器內建自測測試GoMBIST和掃描壓縮設計插入工具GoScanCompress等自研設計工具的實現(xiàn)已具雛形。同時，依托國微芯強大的DFT設計服務團隊，相互支持，實現(xiàn)工具開發(fā)、設計服務雙輪驅動以優(yōu)化工具的整體性能。
GoATPG：自動測試矢量生成工具（Automatic Test Pattern Generation, ATPG）
ATPG的主要功能是在設計過程中，根據(jù)特定的DFT電路結構產(chǎn)生對應的測試矢量和預期響應，針對特定故障計算測試矢量集的故障覆蓋率并通過仿真過程進行驗證。芯片制造完成后的測試階段，在ATE測試機臺上向芯片輸入測試矢量，同時ATE機臺捕獲芯片的輸出響應，并與ATPG工具產(chǎn)生的預期響應進行比對。
性能特點
支持組合邏輯門級和時序邏輯門級網(wǎng)表解析；
支持客戶Blackbox自定義、網(wǎng)表Flattening；
支持國微芯自研標準PPF（Pattern Procedure File）讀取，產(chǎn)生和解析；
支持工業(yè)標準的向量格式：STIL和WGL文件的測試向量讀入并解析，以及寫出到對應模式的文件；
支持對STIL或WGL外部輸入測試向量進行單固定型故障的仿真并得到相應的測試覆蓋率；
支持測試向量相融壓縮、仿真壓縮以及硬件壓縮識別；
自定義全體系故障分類：DT類型（包括DS, DI）、PT和PU類型、UD類型（TI, BL, RE, UU）、ND類型（UC, UO）以及AU類型的故障分組及故障列表輸出；
支持>=8 線程運行測試向量產(chǎn)生及運行故障仿真；
支持當前所有主流工藝的庫。
GoMBIST：存儲器內建自測試（Memory Built-in Self Testing, MBIST）
MBIST是DFT設計中專用于芯片內存儲單元測試的模塊。下一代MBIST先進架構的熱門研究方向是努力實現(xiàn)存儲器測試算法的“原子化”，以適應先進工藝制造條件下復雜多變的算法需求。
國微芯DFT工具團隊自主創(chuàng)新，開發(fā)出一整套靈活高效的MBIST系統(tǒng)架構，并擁有獨立完整的相關知識產(chǎn)權。該架構基于算法原子化的思想，重新規(guī)劃整個測試流程，將其拆解為具有廣泛算法適應性的算法、地址、數(shù)據(jù)三循環(huán)及一個基礎讀寫操作序列。通過創(chuàng)造性地在控制器和外圍單元中分別獨立實現(xiàn)不同操作循環(huán)，將算法過程和具體的數(shù)據(jù)、地址生成過程進一步解耦，實現(xiàn)了較為徹底的算法原子化。同時，該架構完全符合IEEE 1687測試協(xié)議規(guī)定的測試結構，用戶可實現(xiàn)無感切換，并且還支持諸如字間數(shù)據(jù)循環(huán)、自定義地址循環(huán)方式等一系列MBIST先進特性。
性能特點
自主創(chuàng)新，具備完全知識產(chǎn)權；
實現(xiàn)了算法原子化，具有廣泛的算法適應性；
完全支持IEEE 1687測試協(xié)議；
支持用戶自定義測試算法；
支持字間數(shù)據(jù)循環(huán)測試；
支持用戶自定義地址循環(huán)方式；
支持用戶自定義測試地址范圍；
支持測試時功耗域控制，滿足低功耗測試需求；
支持多樣的測試算法集合。
GoScanCompress掃描壓縮硬件插入
掃描測試壓縮測試指的是對掃描鏈輸入輸出引腳壓縮，減少芯片面積，降低測試成本，并且在此基礎上不能影響測試性能，不能降低測試覆蓋率。
性能特點
測試向量壓縮在不影響故障覆蓋率的情況下，最大程度上，對輸入輸出引腳上能夠將多個引腳壓縮成一個通道；
硬件壓縮技術可有效減少用于測試的引腳，從而增加全芯片設計的靈活性。
國微芯可測試性工具
核心競爭力：結合自主研發(fā)測試設計服務流程不斷推進工具的優(yōu)化。
主要優(yōu)勢
具備完全自主知識產(chǎn)權的可測性系統(tǒng)架構；
國際通用，符合IEEE標準的JTAG測試接入端口；
先進算法加持實現(xiàn)高故障覆蓋率；
完全兼容現(xiàn)有DFT設計流程，以及ATE機臺測試標準；
實現(xiàn)高效的并行計算。
